簡要描述:數(shù)字萬用表/萬用表 RT-UT39A交流電流 200m A/20mA/200mA/標(biāo)準(zhǔn)配件 表筆,電池,說明書,保修卡,表筆燈(UL-TL)*,帶燈表筆(UT-L1/L2)
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產(chǎn)地 | 國產(chǎn) | 加工定制 | 否 |
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數(shù)字萬用表/萬用表 型號:RT-UT39A
基本功能
量程
基本精度
直流電壓
200mV/2V/20V/200V/1000V
±(0.5%+1)
交流電壓
2V/20V/200V/750V
±(0.8%+3)
直流電流
20mA/200m A/2mA/20mA/200mA/10A
±(0.8%+1)
交流電流
200m A/20mA/200mA/10A
±(1%+3)
電阻
200W/2kW/20kW/200kW/2MW/200MW
±(0.8%+1)
電容
2mF
±(4%+3)
特殊功能
二管測試
√
通斷蜂鳴
√
三管測試
√
睡眠模式
√
低電壓顯示
√
電壓輸入阻抗
10MW
√
Z大顯示
1999
√
數(shù)據(jù)保持
√
一般特征
電源 9V電池6F22
LCD尺寸 61×32mm
機(jī)身顏色 紅色+鐵灰
機(jī)身重量
310g
機(jī)身尺寸
172×83×38mm
標(biāo)準(zhǔn)配件
表筆,電池,說明書,保修卡,表筆燈(UL-TL)*,帶燈表筆(UT-L1/L2)*
標(biāo)準(zhǔn)內(nèi)包裝
彩盒
標(biāo)準(zhǔn)包裝數(shù)量
40臺
標(biāo)準(zhǔn)包裝尺寸
594×414×334mm
標(biāo)準(zhǔn)包裝箱毛重
20.3kg
數(shù)字萬用表
產(chǎn)品名稱:繼電器綜合參數(shù)測試儀 產(chǎn)品型號:RPT-3E2 |
繼電器綜合參數(shù)測試儀 型號:RPT-3E2
一、 概述
1、簡介
RPT-3E2繼電器綜合參數(shù)測試儀 采用高速微電腦檢測芯片,配合5.7英寸大屏幕液晶顯示屏,方便的大按鍵輸入鍵盤,且按鍵功能單一,方便用戶快速的掌握儀器的使用方法。大屏幕LCD測試數(shù)據(jù)采用高亮顯示,看上去一目了然,人機(jī)界面友好。該儀器可與電腦連接,把測試數(shù)據(jù)送到電腦進(jìn)行數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì),可直接生成出各種參數(shù)的直方圖和測試報(bào)表。
該儀器可檢測6組轉(zhuǎn)換普通電磁繼電器、直流單、雙線圈磁保持繼電器及化繼電器的線圈電阻,接觸電阻,吸合電壓,二次吸合電壓,釋放電壓,吸合時(shí)間,吸合回跳時(shí)間,釋放時(shí)間,釋放回跳時(shí)間,同步時(shí)間差等參數(shù)。
該儀器具有大容量的存儲器,大可以存儲500組參數(shù)數(shù)據(jù)。方便用戶使用。
2、電源供電:單相220VAC;功耗:< DC:250VA
環(huán)境溫度:10 - 40 ºC;相對濕度:< 80%
3、 外型尺寸: 32*38*16cm
二、 主要技術(shù)指標(biāo)
1. 環(huán)境溫度:
測量范圍:2-51ºC,分辨率 0.01 ºC,精度±1%±0.2 ºC
2. 線圈電阻:
10-500Ω檔:分辨率 0.1Ω,精度±1%±0.5Ω
501-5000Ω檔:分辨率0.5Ω,精度±1%±1.5Ω
5.01K-25KΩ檔:分辨率10Ω, 精度±1%±10Ω
3.接觸電阻:
測試條件:10mA/6V;100mA/6V;10mA/28V 100mA/28V 四檔
測試范圍:10mA:
0-50mΩ,分辨率0.2mΩ,精度±1%±1 mΩ
51-500mΩ,分辨率0.2mΩ,精度±1%±0.5mΩ
100mA :
0-50mΩ,分辨率0.2mΩ,精度±1%±1mΩ
51-500mΩ,分辨率0.2mΩ,精度±1%±0.5mΩ
4. 吸合/釋放電壓:
直流電壓測試范圍:0-18V,分辨率0.01V,精度±1%±0.02V
0-75V,分辨率0.02V,精度±1%±0.04V
0-250V,分辨率0.1V,精度±1%±0.2V
5. 吸合/釋放時(shí)間:10mA/6V;100mA/6V;10mA/28V 100mA/28V
測試范圍:0-65ms ,分辨率0.01ms ,精度±0.1ms
6. 吸合/釋放回跳時(shí)間:10mA/6V;100mA/6V;100mA/28V
測試范圍:0-65ms ,分辨率0.01ms ,精度±0.1ms
7. 同步時(shí)間:10mA/6V;100mA/6V;10mA/28V 100mA/28V
測試范圍:0-65ms ,分辨率0.01ms ,精度±0.1ms
10.階梯波(斜波)試時(shí)間:<2.5S
11.方波(快測)測試時(shí)間:<1.8S
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